Методики, используемые в Центре коллективного пользования научным оборудованием
ТГУ имени Г.Р. Державина

 

    1. Методика исследования микроструктуры, морфологии и локального состава поверхности.
    2. Методика определения трехмерной топологии поверхности в атомном масштабе посредством атомно-силовой микроскопии.
    3. Методика качественного и количественного анализа смесей органических веществ с помощью ИК Фурье-спектрометра.
    4. Методика контроля качества пищевой продукции и сырья посредством жидкостного хроматографа.
    5. Методики исследования и анализа пористости и величины удельной поверхности (встроенные методики в исследовательском оборудовании «Анализатор площади поверхности и размеров пор Autosorb iQ-C»).
    6. Методика рентгено-структурного анализа (встроенная методика в исследовательском оборудовании «Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser»).
    7. Методики определения фотометрических величин в УФ и видимом диапазоне (встроенные методики в исследовательском оборудовании «Спектрофотометр Lambda 950»).
    8. Методики сканирующей зондовой микроскопии: Контактная АСМ, Метод Латеральных Сил, Бесконтактная и полуконтактная АСМ, фазовый контраст, Модуляция силы (вязкость), Отображение адгезионных сил, АСМ литография - силовая, Отображение сопротивления растекания, Кельвин-зондовая силовая микроскопия.
    9. Методика исследования механических характеристик материалов в условиях одноосного растяжения/сжатия.
    10. Метод определения упругопрочностных свойств при растяжении ГОСТ 270-75 Резина.
    11. Методы испытаний на кратковременное статическое сжатие ГОСТ 265-77 Резина.
    12. Метод определения сопротивления истиранию при скольжении ГОСТ 426-77 Резина.
    13. Методика измерения истинного объема (плотности) материалов.
    14. Методика измерения массовой концентрации металлов в природных, питьевых и сточных водах рентгенофлуоресцентным методом после концентрирования их пирролидиндитиокарбаминатных комплексов на фильтрах (М-049-ВП/09).
    15. Документация работы в геоинформационной системе QGIS.