Центр коллективного пользования научным оборудованием
Тамбовского государственного университета имени Г.Р. Державина

проектирован, чтобы удовлетворить запросам самых взыскательных исследователей, равно как и опытных инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний.

·                     Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.

·                     Камера и столик для изучения больших образцов (до 150мм диаметром)

·                     Интуитивно понятный интерфейс. Графические иконки содержат надписи, раскрывающие их функциональное назначение. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки.

·                     Многопользовательская система.

·                     Дополнительная установка спектрометров расширяет возможности микроскопа до аналитических.

·                     С помощью новой системы сканирования с большим полем зрения, можно работать на очень малых увеличениях от х5. Такая система особенно удобна для работы в сочетании с автоматической навигацией столика образца.

·                     Такие автоматические функции, как Автофокусировка, Автостигмирование и Автоматическая установка контраста и яркости, сделают Вашу работу с микроскопом легкой и удобной. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения в процессе наблюдения или анализа не требуется проведения каких-либо настроек.

·                     Операции по управлению электронной оптикой просты и эффективны.

·                     Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным, что избавляет оператора от потерь времени на дополнительную юстировку.

·                     Фирма JEOL разработала и запатентовала полупроводниковый детектор отраженных электронов с высокой чувствительностью, который дает возможность наблюдать образцы, используя три вида контраста: композиционный, топографический и теневой.

·                     Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Вы можете наблюдать третье измерение - глубину образца, путём получения серий стереоизображений. Качество стереоизображений напрямую зависит от того, насколько точно сохраняется исходное положение образца при его вращении и наклоне.

На колонну микроскопа можно повесить одновременно от одного до трех дополнительных спектрометров (например, спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов). С помощью этих аналитических приставок Вы сможете получать информацию не только о морфологии поверхности, но и о составе образца на субмикронном уровне, получать картины распределения элементов по выбранной площади образца, вдоль линии, кристаллографическую информацию от микрозерен. Причем важно, что спектрометры работают в единой программе.