Сканирующий зондовый микроскоп di Innova

Объединяет возможности всех мод атомно-силовой и туннельной микроскопии с разрешением вплоть до атомарного, позволяет проводить измерения характеристик рельефа поверхности проводящих и полупроводниковых структур, а также их электрических, магнитных и других свойств.

Производитель
Veeco-Digital Instruments 2007
Метрология (наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения)
-
Стоимость работы на оборудовании (руб./час):

1000

Организация, на балансе которой находится оборудование:

ТГУ им. Г.Р. Державина

Сканирующий зондовый микроскоп di Innova