Сканирующий электронный микроскоп Neon 40

Позволяет определять структуру и фазовый состав приповерхностных слоев наноструктурированных материалов, осуществлять их послойный анализ и модификацию, проводить 3D реконструкцию, а также проводить механические испытания в колонне микроскопа при различных температурах.

Производитель
Neon 40 2008
Метрология (наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения)
-
Стоимость работы на оборудовании (руб./час):

4500

Организация, на балансе которой находится оборудование:

ТГУ им. Г.Р. Державина

Сканирующий электронный микроскоп Neon 40